- WIPO 기술분류 전기 > 컴퓨터기술
- 표준산업분류 컴퓨터 프로그래밍, 정보서비스업
- 국가과학기술표준분류 화공 > 화학공정
- 지식재산권 상태 등록
- 출원일/등록일 2011-03-30 / 2017-11-27
- 거래유형 양도/실시권설정 모두가능
- 기술료 조건 협의 후 결정
변동 계수의 통계적 분석에 의한 화학 공정의 이상 원인 분석 방법
- 서울대학교산학협력단
- 요약
- 본 발명은 변동 계수의 통계적 분석에 의한 화학 공정의 이상 원인 분석 방법에 관한 것이다. 보다 상세하게는, 본 발명은 화학 공정의 조업상태를 모니터링하여 정상 조업상태에서의 변동 계수들과 이상 조업상태에서의 변동 계수들을 통계적으로 비교 분석하여 화학 공정의 이상 원인을 분석하는 방법에 관한 것이다. 본 발명에 따른 변동 계수의 통계적 분석에 의한 화학 공정의 이상 원인 분석 방법에 의하면, 다수의 변동 계수를 갖는 화학 공정에 있어서 이상 상태 발생시 용이하게 이상 상태의 원인을 알아낼 수 있어 신속한 복구, 불필요한 재원의 낭비 방지 및 공장의 부하를 절약할 수 있다.
- 대표청구항
- (1) 화학 공정에서 정상 상태에서의 변동 계수들의 값을 각각 복수개 수집하는 단계; (2) 상기 변동 계수들의 복수개 값의 평균(μ) 및 표준 편차(σ)를 구하는 단계; (3) 원인을 알고 있는 이상 상태의 발생 전후 일정 시간 범위에서의 변동 계수들의 값을 수집하는 단계; (4) 상기 변동 계수들의 값을 정규화하는 단계; (5) 상기 변동 계수들의 정규화된 값(N)들을 상기 일정 시간 범위에 대하여 그래프로 표시하고, 상기 그래프에서 이상 신호가 발생하는 순서와 이상 신호의 형태를 포함하는 매트릭스 패턴을 형성하는 단계; (6) 이상 상태의 원인을 달리해가며 상기 (3)단계 내지 (5)단계를 반복 수행하여, 각 이상 상태의 원인들에 대한 각각의 매트릭스 패턴들을 데이터 베이스에 저장하는 단계; (7) 화학 공정에서 원인을 모르는 이상 상태 발생시, 상기 원인을 모르는 이상 상태의 발생 전후 일정 시간 범위에서의 변동 계수들의 값을 수집하는 단계; (8) 상기 변동 계수들의 값을 정규화하는 단계; (9) 상기 변동 계수들의 정규화된 값(N)들을 상기 일정 시간 범위에 대하여 그래프로 표시하고, 상기 그래프에서 이상 신호가 발생하는 순서와 이상 신호의 형태를 포함하는 매트릭스 패턴을 형성하는 단계; 및 (10) 상기 (9)단계에서 형성된 매트릭스 패턴과 상기 데이터 베이스에 저장된 매트릭스 패턴들을 비교하여 상기 (7)단계의 이상 상태의 원인을 분석하는 단계를 포함하며, 상기 (3)단계의 원인을 알고 있는 이상 상태의 발생 전후 일정 시간 범위는 상기 이상 상태 발생 20분 전부터 상기 이상 상태 발생 20분 후까지의 범위인 것을 특징으로 하는 화학 공정의 이상 원인 분석 방법.
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