성균관대학교산학협력단
최적 스캔 방법 및 이를 적용한 스캔 시스템
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WIPO 기술분류
기구 > 측정
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표준산업분류
측정, 시험, 향해, 제어, 및 기타 정밀기기 제조업
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국가과학기술표준분류
기타
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지식재산권 상태
등록
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출원일/등록일
2021-12-15 / 2022-10-24
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거래유형
양도/실시권설정 모두가능
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기술료 조건
협의 후 결정
- 요약
- 본 발명은 스캔 방법 및 이를 적용한 스캔 시스템에 관한 것으로, 보다 상세하게는 최적의 정확도 및 소요 시간을 갖는 스캐너의 위치를 선택하여 스캔할 수 있는 최적 스캔 방법 및 이를 적용한 스캔 시스템에 관한 것이다. 본원발명은 빠른 시간 내에, 기구적인 소모 없이 스캐너의 위치를 선정할 수 있으며, 스캔 효율을 극대화 할 수 있으며, 스캐너가 프리팹 부재의 상방에만 위치하더라도, 프리팹 부재의 측면 형상 정보를 수신할 수 있는 효과가 있다.
- 대표청구항
- 촬영물의 형상을 스캔하기 위한 최적 스캔 방법에 있어서, 제어부가, (a) 스캐너와 실제 촬영물과 동일하게 모델링된 가상모델 간의 상대위치를 지정하는 단계; (b) 상기 (a) 단계에서 상기 스캐너의 위치에 따른 상기 가상모델의 촬영면과의 위상차를 기반으로 상기 스캐너의 스캔 지점 및 상기 스캔 지점으로 이루어지는 스캔 위치군 정보를 산출하는 단계; (c) 상기 (b) 단계에서 산출된 상기 스캔 위치군 정보를 상기 가상모델에 적용하여 가상 스캔 데이터를 생성하는 단계; (d) 상기 (c) 단계에서 생성된 상기 가상 스캔 데이터를 분석하여 예상 정확도 및 예상 스캔 시간을 산정하는 단계; 및 (e) 상기 (a) 단계 내지 상기 (d) 단계를 미리 내정된 횟수 만큼 반복한 후, 상기 스캐너의 위치 별 상기 (d) 단계에서 산정된 데이터를 비교하여 최적의 스캐너 위치를 선택하는 단계;를 포함하는 것 을 특징으로 하는 최적 스캔 방법.